天眼查App显示,2025年7月18日,「失效地址信息的获取显示方法和装置」正式进入专利的公布阶段。申请人为杭州长川科技股份有限公司,该项信息存储专利涉及内存测试领域中的失效地址信息获取与可视化方案。据专利信息显示,该技术通过获取被测对象的地址测试信息,并基于三维地址信息中用于指示地址所属内存块的信息维度进行二维量化处理,从而生成内存块对应的二维单元视图,有效提升失效地址信息的获取显示效率。发明人为高平羽、程之龙、王璐璞、汪颖。该方案有助于提升内存测试数据分析的直观性与效率,适用于高密度存储芯片的故障定位场景。
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