电子部件缺陷检测方法、装置、设备及存储介质

天眼查App显示,近日,海目星激光科技集团股份有限公司公开了一项名为“电子部件缺陷的检测方法、装置、设备及存储介质”的发明专利(专利号:CN202411210988.4)。该发明旨在提高电子部件缺陷检测的准确性和通用性,同时降低检测成本。具体而言,该方法包括采集电子部件的图像数据或传感器数据,并对这些数据进行预处理生成基础数据。基础数据随后被输入到缺陷检测模型中,进行高层特征提取和特征混合,生成第一混合特征。接下来,通过特征聚合和全局特征提取,获得聚合特征和全局特征,并经过特征增强生成注意力特征。最终,通过对注意力特征进行特征变换和解码,得到目标检测结果。此技术的应用有望显著提升电子部件的质量控制水平。

该专利公布日期为2025年1月3日,发明人为张小虎、赵盛宇和黄健宏。公司地址位于广东省深圳市龙华区观湖街道鹭湖社区观盛五路科姆龙科技园B栋301。

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