华海清科推出新型晶圆清洗装置,助力晶圆减薄工艺革新

天眼查App显示,近日,华海清科股份有限公司成功研发并公开了一项名为“晶圆清洗装置、清洗方法及晶圆减薄设备”的发明专利(专利号:CN202411843416.X)。该装置专为晶圆减薄设备设计,采用非接触式背面清洗技术,有效避免了晶圆背面污染、划伤及破片问题。

该晶圆清洗装置包括喷射旋转件、中空转轴及驱动机构。喷射旋转件通过内部流道向晶圆背面喷射清洗流体,同时驱动机构带动中空转轴旋转,确保清洗流体均匀覆盖晶圆表面。这一创新设计不仅提升了清洗效率,还显著降低了晶圆在减薄过程中的损伤风险。

华海清科此次技术突破,标志着晶圆制造工艺在清洗环节的重大进步,有望为半导体行业带来更高的生产效率和产品质量。

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