中电智能科技发布PLC系统自适应测试新方法

天眼查App显示,2025年2月7日,中电智能科技有限公司公开了一项名为“一种PLC系统软硬件自适应测试方法及系统”的发明专利(专利号:CN202411991845.1)。该技术由赵德政、郭肖旺等六位发明人共同研发,旨在提升PLC(可编程逻辑控制器)系统的测试效率与准确性。

这项发明通过创新的自适应测试方法,能够自动调整测试参数,确保软硬件在不同环境下的兼容性和稳定性。这不仅简化了测试流程,还大幅提高了工业自动化控制系统的可靠性。中电智能科技位于北京市昌平区未来科学城南区,专注于电子信息技术的研发与应用,此次专利的公开标志着公司在工业自动化领域取得了重要进展。

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