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江苏天科合达半导体有限公司与北京天科合达半导体股份有限公司联合申请的发明专利“一种表面色差检测方法、装置、电子设备和存储介质”于2025年2月14日公布。该专利涉及测量和测试领域，旨在提供一种高效的表面色差检测解决方案。

关键点
- 专利名称：一种表面色差检测方法、装置、电子设备和存储介质
- 专利号：CN202411484049.9
- 公布日期：2025年2月14日
- 申请日期：2024年10月23日
- 申请人：江苏天科合达半导体有限公司、北京天科合达半导体股份有限公司
- 发明人：李秀丽、邹宇、张平、娄艳芳、王波、彭同华、杨建
- 地址：江苏省徐州市经济技术开发区创业路26号
- 专利类型：发明专利
- 分类号：G01N21/25, G06T7/00, G06T7/90, G01N21/95, G01J3/46

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