天眼查App显示，导语：2025年2月25日，东方晶源微电子科技（北京）股份有限公司的一项发明专利正式公布。该专利涉及掩膜图形偏差值确定方法、装置、设备、介质及产品，旨在提升计算和推算的准确性。

关键点：
- 专利名称：掩膜图形偏差值确定方法、装置、设备、介质及产品
- 申请时间：2024年11月19日
- 公布时间：2025年2月25日
- 专利类型：发明专利
- 申请人：东方晶源微电子科技（北京）股份有限公司
- 发明人：张生睿、俞宗强、施伟杰
- 地址：北京市大兴区北京经济技术开发区经海四路156号院12号楼
- 邮编：100176
- 专利分类号：G06V30/422, G06V30/19
- 代理机构：北京东方亿思知识产权代理有限责任公司

如需了解更多详情，请联系东方晶源微电子科技（北京）股份有限公司。

免责声明：本文内容由开放的智能模型自动生成，仅供参考。