天眼查App显示，导语：这是一则关于专利公布的公告，主体单位为苏州长光华芯光电技术股份有限公司及苏州长光华芯半导体激光创新研究院有限公司。该专利涉及一种测试样品及其制备方法，属于测量与测试领域。

关键点：
- 专利名称：测试样品及其制备方法
- 申请时间：2025年2月19日
- 公布时间：2025年3月21日
- 专利类型：发明专利
- 申请人：苏州长光华芯光电技术股份有限公司、苏州长光华芯半导体激光创新研究院有限公司
- 核心内容：通过在半导体衬底中形成凹槽，并依次添加超晶格层、绝缘保护层和导电层，最终利用聚焦离子束切割形成测试样品。
- 地址：江苏省苏州市高新区漓江路56号
- 邮编：215163

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