天眼查App显示，导语： 深圳中科飞测科技股份有限公司的一项发明专利“膜层测量方法及装置”于2025年3月25日公布。该专利涉及光学检测技术领域，旨在提升膜层性质的测量效率。

关键点：
- 专利名称：膜层测量方法及装置
- 申请时间：2025年2月25日
- 公布时间：2025年3月25日
- 专利类型：发明专利
- 核心技术：通过泵浦光和探测光结合回射器移动技术，生成正向与反向扫描光谱，整合后获取膜层性质。
- 发明人：马砚忠、郑麦杰、戴鹭楠等6人
- 代理机构：长春中科长光知识产权代理事务所
- 地址：广东省深圳市龙华区观澜街道

如有进一步需求，可联系代理人孙艳辉。

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