天眼查App显示，杭州长川科技股份有限公司近日获得一项名为“时间特征测试方法、装置、系统、计算机设备和程序产品”的发明专利授权，专利号为CN202411930632.8。

关键点：
- 专利类型：发明专利，涉及测量与测试技术领域。
- 申请时间：2024年12月26日。
- 授权时间：2025年3月25日。
- 发明人：魏鑫、赵勇、董超、唐龙。
- 专利内容：该专利提供了一种时间特征测试方法，通过FPGA对待测芯片进行测试并计算时间特征，旨在提高测试效率。
- 联系地址：浙江省杭州市滨江区聚才路410号。

该专利的授权标志着杭州长川科技在测试技术领域的进一步创新突破。

免责声明：本文内容由开放的智能模型自动生成，仅供参考。