中芯国际公布存储器结构及其形成方法发明专利

天眼查App显示,导语: 中芯国际集成电路制造(北京、上海)有限公司于2025年4月8日公布了名为“存储器结构及其形成方法”的发明专利,该专利旨在优化存储单位面积,提升存储技术性能。

关键点:
- 专利号:CN202311287537.6
- 公布时间:2025年4月8日
- 发明人:黄兴凯
- 核心内容:通过在源极层上形成控制栅层、浮栅层及沟道层,缩小存储单位面积。
- 技术优势:控制栅层与浮栅层沿垂直衬底表面依次分布,有效减少存储单元面积。
- 地址:北京市大兴区经济技术开发区文昌大道18号
- 联系代理机构:北京集佳知识产权代理有限公司

如需了解更多详情,可联系中芯国际或其代理机构。

免责声明:本文内容由开放的智能模型自动生成,仅供参考。

最新文章
Copyright © DoNews 2000-2025 All Rights Reserved
蜀ICP备2024059877号-1