天眼查App显示，导语： 上海复旦微电子集团股份有限公司的一项发明专利于2025年4月11日公布，涉及测试电路及其控制方法、存储介质和芯片，旨在提升测试覆盖率。
关键点：
- 专利名称：测试电路及其控制方法、存储介质、芯片
- 申请时间：2023年10月9日
- 公布时间：2025年4月11日
- 发明人：杨丽婷、俞剑、陈宁
- 核心技术：通过级联测试模块实现待测试模块的任意切割与划分，提高测试效率和覆盖率
- 专利类型：发明专利
- 主要分类号：G01R31/28（测量；测试）
- 联系地址：上海市杨浦区国泰路127号复旦国家大学科技园4号楼
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