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宁波激智科技股份有限公司于2025年4月15日公布了一项发明专利，涉及一种用于光学膜断面微结构形貌分析的制样方法。该专利旨在提升制样效率，缩短传统金相制样的繁琐流程。
关键点：
- 专利名称： 用于光学膜断面微结构形貌分析的制样方法
- 申请时间： 2024年12月31日
- 公布时间： 2025年4月15日
- 申请人： 宁波激智科技股份有限公司
- 发明人： 李刚、张彦、缪锴等7人
- 核心优势： 使用透明PET保护膜覆盖光学膜样品，快速切割获得清晰断面，显著提升制样效率和断面质量。
- 地址： 浙江省宁波市高新区晶源路9号
- 专利类型： 发明专利
如需了解更多详情，可联系宁波激智科技股份有限公司。
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