天眼查App显示，2025年05月06日，「通用型分布式测试系统」正式进入专利公布阶段。申请人为上海安路信息科技股份有限公司，该项芯片测试技术专利涉及一种突破传统ATE平台限制的通用型分布式测试系统。据专利信息显示，该系统通过将逻辑测试向量分解整合为通用测试数据格式，并采用压缩加密方式形成可实时传输的测试数据库，显著优化了测试效率。测试接口与边缘计算模块之间采用非对称传输方式，充分利用下行带宽，提升了整体效率。此外，系统支持星型或链型拓扑结构，扩展性强，模块化设计复用率高。通过设置分布式边缘计算模块，降低整机系统要求，实现低成本高并发测试。发明人为袁智皓、徐春华。 「通用型分布式测试系统」突破了传统测试平台的限制，适用于多种复杂测试场景，具有广泛的应用前景。

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