天眼查App显示，2025年5月6日，「一种射频微系统测试一体化BIT自检系统」正式进入专利公布阶段。申请人为南京国博电子股份有限公司，该项控制领域专利涉及射频微系统的测试与筛选需求。据专利信息显示，该技术实现了射频微系统测试系统在电性能测试和功能性测试两种模式之间的灵活切换，具有可重构、可扩展及集成度高的特点，显著优化了测试系统的加电与通信方式，提高了测试便捷性并降低了成本。发明人为俞利国、张鑫、杨东升。「本发明包含BIT核心模块、通信模块、继电器模块等组件，并通过BIT自检软件模块实现功能整合。其优势在于减少直流电源使用，降低整体测试成本，同时满足当前射频微系统测试的多样化需求。」

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