紫光同芯微电子有限公司等「用于系统级芯片验证的多核同步方法及装置、系统」专利公布(集成电路验证专利快讯)

天眼查App显示,2025年5月16日,「用于系统级芯片验证的多核同步方法及装置、系统」正式进入专利公布阶段。申请人为紫光同芯微电子有限公司,该项集成电路验证专利涉及系统级芯片验证技术领域中的多核同步方法与装置。据专利信息显示,该方法能够显著优化内核状态更新逻辑,提高多核同步速度及效率。发明人为张河勇、张辉。

本申请公开了一种应用于SV验证平台的多核同步方法,包括向每个具有多核同步需求的内核分配主状态存储空间和相互独立的子状态存储空间;其中,内核表示相同CPU的核或者不同CPU的核,子状态存储空间存储用以反映对应内核状态的子状态,主状态存储空间存储用以反映所有内核状态的主状态;读取每个子状态存储空间以获得每个内核的子状态;在所有内核的子状态均更新到新的状态的情况下,将主状态存储空间的主状态更新到新的状态。该方法有效简化了内核状态更新逻辑,提升了多核同步效率。本申请还公开一种用于系统级芯片验证的多核同步装置及系统。

免责声明:本文内容由开放的智能模型自动生成,仅供参考。

Copyright © DoNews 2000-2025 All Rights Reserved
蜀ICP备2024059877号-1