天眼查App显示，2025年5月30日，「矿石品位分析方法和系统」正式进入专利公布阶段。申请人为同方威视技术股份有限公司和清华大学，该项测量测试领域专利涉及利用X射线束流照射矿石以激发目标元素核素产生核共振荧光效应的技术。据专利信息显示，该方法能够显著优化矿石中目标元素品位的检测精度。发明人为邹伟、朱国平、阮明、张一鸣、黄铭、邓艳丽和苗齐田。「本公开提供了一种矿石品位分析方法，包括：利用辐射源生成X射线束流；利用X射线束流照射矿石，激发矿石中的目标元素核素产生核共振荧光效应，并发射目标特征γ射线，其中，X射线束流的能量高于目标元素核素的激发能量；在利用X射线束流照射矿石的同时，照射含有参考核素的标样物，激发参考核素发射参考特征γ射线，其中，参考核素表示为具有已知含量和已知特征γ射线的能量的核素；检测目标特征γ射线的能量和参考特征γ射线的能量；以及基于目标特征γ射线的能量和参考特征γ射线的能量，确定矿石中的目标元素品位。」

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