天眼查App显示，2025年5月30日，「测试参数预加载方法、系统及预加载数据的修改方法」正式进入专利的公布阶段。申请人为杭州长川科技股份有限公司，该项测量测试专利涉及芯片测试技术领域。据专利信息显示，该技术能够显著优化芯片测试过程中的测试参数预加载效率。发明人为董超、牛功喜、刘圣林、李震和贾生伟。

本申请提供了一种测试参数预加载方法、系统及预加载数据的修改方法，具体包括：基于待执行的测试项获取对应的多个测试参数集，其中测试参数集包含多个被测管脚及其对应的测试参数；通过遍历各测试参数集，以测试参数集为单位并行发起多个预加载线程，这些线程用于获取测试参数集中各被测管脚在测试通道上的通道参数和硬件内存地址；最终基于各预加载线程获取的硬件内存地址，将对应的通道参数写入测试通道的硬件内存。这一方案有效解决了芯片测试过程中预加载效率低的问题。

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