天眼查App显示，2025年6月3日，「膜层测量方法及装置」正式进入专利权的授权阶段。申请人为深圳中科飞测科技股份有限公司，该项光学检测专利涉及一种用于提升膜层性质测量效率的方法和装置。据专利信息显示，该技术可显著优化膜层性质的测量效率。发明人为马砚忠、郑麦杰、戴鹭楠、白园园、孙韬、陈鲁。 「本发明涉及光学检测技术领域，尤其涉及一种膜层测量方法及装置，膜层测量方法包括：采用泵浦光和探测光照射待测样品，探测光经待测样品反射形成探测信号光，其中，探测光或者泵浦光经回射器引导照射待测样品，回射器沿第一方向往返移动以对探测光或者泵浦光进行时间延迟；接收回射器沿第一方向正向移动时的探测信号光，生成正向扫描光谱，以及接收回射器沿第一方向反向移动时的探测信号光，生成反向扫描光谱；整合正向扫描光谱和反向扫描光谱生成探测光谱，基于探测光谱获取待测样品的膜层性质。本发明至少有利于提升膜层性质的测量效率。」

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