天眼查App显示，2025年7月8日，「一种基于回光强度和信噪比分析的激光测振仪自动识别坏点方法」正式进入专利的公布阶段。申请人为南京光声超构材料研究院有限公司、北京卫星制造厂有限公司，该项测量测试专利涉及激光测振仪在粗糙表面试样的信号质量提升技术。据专利信息显示，该方法通过电动位移滑台进行扫场过程中，结合回光强度与信噪比分析实现自动识别坏点，从而提高检测能力并优化回光信号质量。发明人为钱斯文、刘丽霞、徐丽霞、陈浩、丁雷、杨耀东、回天力、李夏侨、张立敏、陈栋康康、阙亚萍。本发明公开的技术方案为：在激光测振仪利用电动位移滑台进行扫场过程中，根据回光强度判断扫描位置的信号质量，若回光强度未能超过设定阈值，则会重新在附近寻找一个信噪比高的位置的信号来代替原始位置信号，提高激光测振仪对表面粗糙试样的检测能力。

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