天眼查App显示，2025年7月8日，《一种FOF结构的绑定阻抗测试方法》正式进入「专利的公布」阶段。申请人为深圳同兴达科技股份有限公司，该项测量测试专利涉及FOF结构中绑定阻抗的检测场景。据专利信息显示，该方法通过优化PIN脚布局及走线连接方式，有效解决了空间窄无法增加多个PIN脚从而无法测试绑定阻抗的情况。发明人为张丽霞。本发明公开一种FOF结构的绑定阻抗测试方法，包括以下步骤：提供第一FPC和第二FPC，第一绑定接头的左侧和右侧分别形成有一个无效网络定义PIN脚，分别为PIN脚PL1和PIN脚PR2，第二绑定接头的左侧和右侧对应PIN脚PL1和PIN脚PR1分别形成有一个无效网络定义PIN脚，分别为PIN脚PL2和PIN脚PR2，PIN脚PL1引出走线连接测试点T2，PIN脚PL2引出走线连接测试点T1，PIN脚PR1引出走线连接测试点T4，PIN脚PR2引出走线连接测试点T3。

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