天眼查App显示，2025年7月8日，「一种还原待测元件真实阻抗的仿真方法及应用」正式进入专利的公布阶段。申请人为深圳市一博科技股份有限公司，该项计算专利涉及电子元件仿真测试技术领域。据专利信息显示，该方法通过搭建长走线链路模型并结合直流电阻变化率曲线修正实测阻抗曲线，有效消除上漂效应影响，从而还原待测元件的真实阻抗参数。发明人为黄刚、吴均。本发明基于直流电阻的线性累积特性，通过建立待测元件的等效链路模型，量化直流电阻的变化，利用电阻变化率曲线与实测阻抗曲线完成差值修正，最终提升测量精度。摘要中指出，此方法在仿真建模和电路分析中具有广泛应用前景。

免责声明：本文内容由开放的智能模型自动生成，仅供参考。