杭州广立微电子股份有限公司DRC测试结果验证方法、装置、设备和存储介质专利公布(计算专利快讯)

天眼查App显示,2025年7月8日,「DRC测试结果验证方法、装置、设备和存储介质」专利正式进入专利的公布阶段。申请人为杭州广立微电子股份有限公司,该项计算专利涉及DRC测试结果验证技术场景应用。据专利信息显示,采用本方法能够高效确定自研的待测试工具的测试准确性,实现显著优化。发明人为张鹏飞。本申请涉及一种DRC测试结果验证方法、装置、设备和存储介质,方法包括:基于待测试工具执行测试用例,得到待测试电路的测试报告,并获取待测试电路对应的标准结果文件;基于预设的测试违例建立匹配指令,其中,适应测试报告建立待测试匹配指令,适应标准结果文件建立标准匹配指令;基于待测试匹配指令从测试报告中抓取对应的测试结果,以及基于标准匹配指令从标准结果文件中抓取对应的标准结果;将抓取到的针对同一测试违例的测试结果和标准结果进行匹配,若检测到匹配成功,则判断待测试工具的测试结果正确。采用本方法能够高效确定自研的待测试工具的测试准确性。

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