河南仕佳光子科技股份有限公司一种DFB激光器芯片耦合因子的测量方法专利公布(光电测试专利快讯)

天眼查App显示,2025年7月11日,「一种DFB激光器芯片耦合因子的测量方法」正式进入专利的公布阶段。申请人为河南仕佳光子科技股份有限公司,该项光电测试专利涉及DFB激光器芯片领域的耦合因子测量技术。据专利信息显示,该方法通过实际测试数据结合传输矩阵法,能够准确获取DFB激光器芯片的耦合因子,且测试结果不受电流、温度影响,具有良好的普适性和稳定性。发明人为张晓光、褚昆昆、李志峰、姬文杰、焦山明、唐强、梅雪、常夏森、张晓。本发明旨在解决传统建模/仿真方法在耦合因子计算中与真实值存在较大差异的技术难题,提供了一种具备工程实用价值的测量方案。摘要显示,该方法包括测试同一批次芯片的光谱并统计波长中值,据此计算有效折射率及耦合因子,并通过传输矩阵法建立耦合因子与双模芯片波长差之间的对应关系,从而实现精确测量。

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