天眼查App显示，2025年7月11日，「一种密封电子元器件内腔多余物检测方法及其装置」正式进入专利的公布阶段。申请人为贵州振华风光半导体股份有限公司，该项测量测试领域专利涉及电子元器件可靠性测试技术。据专利信息显示，该方法通过设计专用测试电路并制作PCB测试板，结合振动台和信号采集系统，显著优化了现有密封电子元器件内腔微小颗粒物与电化学污染所生成多余物的检测精度与效率。发明人为潘宇航、谢炜炜、刘岗岗、刘光亚、杨云、易洋。该技术广泛应用于密封电子元器件及模块内腔多余物的高效检测中，解决传统检测方式精度不高、效率低的问题。

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