天眼查App显示，2025年7月15日，浙江华远微电科技有限公司申请的「一种膜厚测量治具」正式进入专利权授权阶段。该测试领域专利涉及膜厚测试技术应用场景，据专利信息显示，通过在膜厚测试区内设置台阶形成组件，使得衬底在镀膜的过程中形成金属台阶，并且在完成镀膜后可直接测试所制备的膜厚，有效缩短了检测时间，提前得到所需的膜厚，工作效率提升显著优化。发明人为杜武君、周翔。本实用新型通过设置封盖组件，可将部分台阶形成组件遮挡，从而避免不需要的金属台阶；同时，在异常检测区内设置台阶形成组件，可测试产品的膜厚分布情况。

免责声明：本文内容由开放的智能模型自动生成，仅供参考。