天眼查App显示，2025年7月15日，液晶面板孔区缺陷检测机构专利正式进入专利权的授权阶段。申请人为北京兆维电子（集团）有限责任公司，该项测量测试专利涉及AOI自动光学检测领域。据专利信息显示，该机构通过点光源与环光源的协同设计，有效提高检测的准确性和检测效率，保障缺陷的检出率，为液晶面板的功能测试提供了保障。发明人为任璐、徐智忠、曹琳。本申请公开了一种液晶面板孔区缺陷检测机构，属于AOI自动光学检测领域。其包括机架以及安装于所述机架上的图像采集装置，所述图像采集装置内设置有点光源，所述点光源的出光方向与所述图像采集装置的出光方向相同，所述图像采集装置的周侧设置有环光源，所述环光源的出光方向与所述图像采集装置的出光方向相同。本申请能够有效提高检测的准确性和检测效率，保障缺陷的检出率，为液晶面板的功能测试提供了保障。

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