天眼查App显示，2025年7月22日，「自动测试设备、芯片测试方法、装置及介质」专利正式进入专利的公布阶段。申请人为炬芯科技股份有限公司，该项芯片测试专利涉及在芯片量产测试之前，采用预设规则执行预测试，从而实现对芯片量产测试环境是否正常的检测，进而提高工作效率和量产测试准确性。据专利信息显示，该技术方案通过通知分选机执行预设动作，将待测试芯片放入测试区测试座内，并在测试开始信号触发时切换测试模式，执行芯片测试并将结果反馈给分选机，实现闭环控制。发明人为陈俞材、华叙来、罗春艺、李刚、吴延治。本申请内容包括存储器和处理器，能够基于程序指令实现自动化测试流程，显著优化测试效率与准确性。

免责声明：本文内容由开放的智能模型自动生成，仅供参考。