合肥埃科光电科技股份有限公司杂散光灰度值获取方法、自动对焦处理方法及系统专利公布(光学专利快讯)

天眼查App显示,2025年7月22日,「杂散光灰度值获取方法、自动对焦处理方法及系统」专利正式进入专利的公布阶段。申请人为合肥埃科光电科技股份有限公司,该项光学专利涉及显微自动对焦领域。据专利信息显示,该方法通过调节显微物镜与光线反射点之间的距离或反射角度,或在显微物镜外侧增加消光组件,以消除杂散光对离焦量计算的影响,从而提高离焦量计算的准确性。发明人为夏云鹏;唐俊峰;杨晨飞;曹桂平;董宁。该专利摘要显示,通过计算显微物镜在轴向不同高度位置处由杂散光在第一传感器表面形成的理论光斑区域,并提取实际光斑图像中对应的灰度值,用于校正待测物的光斑图像,从而降低杂散光对离焦量计算结果的影响。

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