天眼查App显示，2025年8月15日，杭州中安电子股份有限公司的「一种无功老化的测试线路」正式进入专利的公布阶段。申请人为杭州中安电子股份有限公司，该项测试测量专利涉及老化测试技术领域。据专利信息显示，该测试线路通过优化设计，降低测试装置的杂感，降低开关尖峰电压Vds_peak，提高功率模块的电压应力Vds开关速度dV/dt，电流应力开关速度di/dt，使老化测试线路更贴合客户使用环境。发明人为柴俊标、卜建明、贺庭玉、廖剑、余亮、卜予城。本发明涉及老化测试技术，尤其涉及一种无功老化的测试线路；其包括测试器件和测试单元，测试单元与测试器件连接，用于对测试器件进行老化测试；其测试单元包括电源，控制板和母排单元；电源用于提供电源至控制板、母排单元及测试器件；控制板产生测试信号用于对测试器件进行测试，并生成控制信号对电源进行控制；母排单元用于连接控制板及测试器件。

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