天眼查App显示，2025年8月29日，吉林华微电子股份有限公司的「一种二极管TRR参数测试装置」专利正式进入专利权的授权阶段。申请人为吉林华微电子股份有限公司，该项测量测试专利涉及二极管TRR参数测试技术领域。据专利信息显示，该测试装置与TRR测试仪和硅片配合使用，用于测试硅片制成的二极管的TRR参数，包含置物板、承片台体、绝缘测试台体、射灯组件以及测试笔组件，显著优化了测试过程中的操作便捷性与精度。发明人为王久峰、于洋、常影、王斌、孟鹤、邢文超、于浩文。本实用新型在使用过程中，在表笔接触下压时，笔芯受力向后端运动，并驱动弹簧拉伸，绝缘帽接触触控开关，触发测试仪测试；表笔抬起时，笔芯受弹簧弹力向前运动，绝缘帽脱离触控开关，测试结束，测试后的硅片可从绝缘测试台体半圆形通孔处夹起，用射灯观察硅片背面金属状态，便于人员操作。

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