天眼查App显示，2025年8月29日，「电性测试装置及测试系统」专利正式进入专利权的授权阶段。申请人为荣旗工业科技（苏州）股份有限公司，该项半导体测试专利涉及电性测试装置及测试系统的结构创新与功能集成。据专利信息显示，该装置通过集成光照和测试功能，有效降低测试系统的生产成本，实现测试效率的显著优化。发明人为柳洪哲、柳云鸿、金元元、武泽坤。该专利摘要指出，其包括安装架、电测机构、光源机构、连杆机构及驱动件，电测机构和光源机构可在连杆机构带动下实现相向或背向运动，以完成测试或供产品进出，提升测试自动化水平与操作便捷性。

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