天眼查App显示，2025-09-23，「一种检测方法及系统」正式进入专利的公布阶段。申请人为深圳中科飞测科技股份有限公司，该项半导体检测专利涉及沟槽图像的预处理、特征融合、分割及不合格区域检测的技术应用场景描述。据专利信息显示，该技术通过融合特征与灰度统计分析，显著优化了传统图像分割算法准确性不足及深度学习模型效率低、显存占用大的问题。发明人为齐鑫;李楠楠;胡诗铭;张鹏斌;陈鲁。本申请解决了利用传统图像分割算法分割不准确、常用的深度学习模型效率较慢、所占显存较大的问题。

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