国际电工委员会（IEC）近日正式发布了《声表面波器件用单晶晶片规范与测量方法》（IEC 62276:2025），该标准首次明确了压电材料的光学性能标准。在这一新标准的制定过程中，三安滤波器晶体团队在关于晶片透过率（晶片黑化程度）的技术要求和测量方法上做出了重要贡献。泉州三安集成凭借其在LN/LT压电材料制备工艺上的深厚研发经验，提出了多项技术性修改建议，这些建议已被纳入新标准的主要修订内容之一。这一标准的发布，标志着压电材料在声表面波器件应用中的技术规范迈向了新的里程碑。