今日,全球领先的独立第三方实验室胜科纳米正式在上海证券交易所上市。作为材料分析与失效分析领域的顶尖机构,胜科纳米拥有包括高分辨透射电子显微镜(HR-TEM)、双束聚焦离子束系统(Dual Beam FIB)以及飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)等世界一流实验设备,其开放式专业分析平台为半导体、新能源等行业提供关键技术支撑。此次上市将进一步提升其研发能力,推动高端材料分析技术的创新发展。
今日,全球领先的独立第三方实验室胜科纳米正式在上海证券交易所上市。作为材料分析与失效分析领域的顶尖机构,胜科纳米拥有包括高分辨透射电子显微镜(HR-TEM)、双束聚焦离子束系统(Dual Beam FIB)以及飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)等世界一流实验设备,其开放式专业分析平台为半导体、新能源等行业提供关键技术支撑。此次上市将进一步提升其研发能力,推动高端材料分析技术的创新发展。