天眼查App显示，近日，杭州长川科技股份有限公司公开了一项名为“芯片测试控制方法、芯片测试系统和设备”的发明专利，专利号为CN202411370932.5。该专利由吴承泽、李钦源、张亚鑫和杨文军共同发明，旨在通过创新的通信串口设置，简化芯片测试流程，提高测试效率。

根据专利摘要，该技术通过在芯片测试系统的下位机处理器和控制器上分别设置通信串口，实现了上位机与控制器之间的间接通信。这一方法无需外部接线手动连接，不仅操作简便，还能节省设备资源，显著提升测试效率。该专利已于2024年9月27日公布，预计将于2025年1月21日正式发布。

杭州长川科技股份有限公司位于浙江省杭州市滨江区，此次专利的公开进一步巩固了其在芯片测试领域的技术领先地位。

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