天眼查App显示，同方威视技术股份有限公司于2025年3月14日公布了其发明专利“射线检查系统”，该专利提供了一种可调节射线源与探测组件位置和姿态的检查系统，适用于测量与测试领域。

关键点：
- 主体单位：同方威视技术股份有限公司
- 专利类型：发明专利
- 公布时间：2025年3月14日
- 核心内容：系统包括射线源装置和探测装置，两者沿第一方向相对布置，形成供被检物通过的检查通道。
- 地址：北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
- 发明人：王锋、宋全伟、史俊平、樊旭平、孟辉

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