天眼查App显示，导语：深圳中科飞测科技股份有限公司成功申请一项发明专利，涉及半导体晶圆缺陷检测的模型训练方法、系统、电子设备及存储介质，专利将于2025年4月8日正式公布。

关键点：
- 专利名称：半导体晶圆缺陷检测的模型训练方法、系统、电子设备及存储介质
- 申请时间：2024年12月30日
- 公布时间：2025年4月8日
- 专利类型：发明专利
- 核心内容：通过优化训练数据集采样方法，提升半导体晶圆缺陷检测模型的精度，解决数据不均衡问题。
- 申请单位：深圳中科飞测科技股份有限公司
- 专利代理机构：深圳市深佳知识产权代理事务所（普通合伙）
- 地址：广东省深圳市龙华区观澜街道新澜社区观光路1301-14号101、102

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