天眼查App显示，2025年5月9日，「一种芯片测试模式的保护电路及其控制方法」正式进入专利权的授权阶段。申请人为江苏帝奥微电子股份有限公司，该项芯片测试专利涉及芯片的安全测试模式切换技术。据专利信息显示，该发明能够显著优化芯片测试的安全性与稳定性，无需额外增加芯片管脚即可确保安全进入测试模式，并在正常工作时避免误入测试模式。发明人为时颖、吕宇强和鞠建宏。 「本发明公开了一种芯片测试模式的保护电路及其控制方法，包含管脚切换安全电路、管脚切换模块、测试模式模块和正常功能模式模块，在测试模式下，芯片的第一管脚输入时钟信号TCLK，芯片的第二管脚输入特定序列信号TDI，管脚切换安全电路将输入的特定序列信号TDI与内部存储的预存序列信号进行匹配，匹配成功则控制管脚切换模块切换测试模式模块和正常功能模块与芯片的第一管脚和第二管脚的连接。本发明无需额外增加芯片管脚，就可以确保能够安全进入测试模式，且在正常工作时不会进入测试模式。」

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