天眼查App显示，2025年5月9日，「一种检测系统及方法」正式进入专利公布阶段。申请人为合肥埃科光电科技股份有限公司，该项测量测试专利涉及光度立体系统的功能检测技术领域。据专利信息显示，该技术实现显著优化，简化了线阵相机的采图过程及检测流程，并可同时完成不同功能检测，大幅提高检测效率。发明人为白皓轩、黄长江、唐俊峰、曹桂平和董宁。 「一种检测系统及方法」提出了一种包含采图设备、光源组件、标准样品和评估装置的检测系统。标准样品表面通过漫反射与镜面反射结构体的设计，结合图像计算判断，能够有效评估分区光源和采图设备的功能是否正常。

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