天眼查App显示，2025年5月16日，「一种表面缺陷检测方法、装置、系统及介质」正式进入专利的公布阶段。申请人为合肥埃科光电科技股份有限公司，该项检测技术专利涉及表面缺陷检测领域的创新应用。据专利信息显示，该技术能够显著优化检测效率，同时获取彩色信息和凹凸信息，实现成本降低与性能提升的双重突破。发明人为殷亚祥、罗来富、邵云峰、曹桂平和董宁。 「本发明公开了一种表面缺陷检测方法、装置、系统及介质，通过控制各光源依次点亮并循环，利用真彩线阵相机对移动的待测物进行拍摄，以获取真彩线阵相机各通道所采集的原始图像信息；拆分各通道所采集的原始图像信息，汇总同一光源对应的图像信息得到子图；融合各通道下所有光源对应的子图计算平均值作为融合数据，提取任意通道下所有光源对应的子图基于光源角度信息计算光度立体图，从而实现低成本高效率的检测方案。」

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