天眼查App显示，2025年5月16日，「减少OTDR测试时间的方法、装置及系统」正式进入专利公布阶段。申请人为成都成电光信科技股份有限公司，该项测量专利涉及光时域反射仪领域，旨在显著优化单纤测试时间，极大提高设备工作效率。据专利信息显示，测试数据精度在保证不变的情况下，测试时间显著减少。发明人为解军、阳树中、王品嘉。 「减少OTDR测试时间的方法、装置及系统」通过在基于单光子探测的光时域反射仪OTDR增设光功率控制模块，改变激光器输出光脉冲功率；在单光子探测器上加入门控脉冲，同步于饱和光脉冲并关闭探测器光子响应；以分步光衰减及同步门控进行多次分步测试获得多条分步测试曲线，并最终将多条分步曲线合成，得到最终测试曲线。

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