天眼查App显示，2025年5月30日，「一种晶体缺陷检测分析方法及系统」正式进入专利权的授权阶段。申请人为江西联创光电超导应用有限公司、宁夏盈谷实业股份有限公司和西安创联新能源设备有限公司，该项晶体检测技术领域专利涉及晶体缺陷检测与分析。据专利信息显示，该技术实现了对晶体缺陷浓度、类型、迁移动力学及动力学过程的精准分析，显著优化了晶体检测的成本、速度和深度问题。发明人为伍宇扬、蒋国忠、伍锐、戴少涛、何昕、吴学军、伍铭越、高琪和时刚。

本发明提供了一种晶体缺陷检测分析方法及系统，通过五个步骤完成晶体缺陷的全面检测：首先对晶体进行加热和冷却以获取不同烧结条件下的电阻率并确定缺陷浓度；其次分析载流子行为受缺陷的影响以确定缺陷类型；再次通过光吸收过程确定缺陷的迁移动力学；然后创建数值模型预测晶体缺陷行为；最后通过回归分析提取缺陷特征参数，实现晶体缺陷的精准检测分析。该技术解决了传统晶体缺陷检测成本高、速度慢且检测深度有限的问题，为提升材料性能提供了技术支持。

免责声明：本文内容由开放的智能模型自动生成，仅供参考。