天眼查App显示，2025年6月6日，「芯片测试信息的处理方法、装置、电子设备、介质及产品」正式进入专利公布阶段。申请人为中移物联网有限公司、芯昇科技有限公司、中国移动通信集团有限公司，该项计算专利涉及芯片测试技术领域。据专利信息显示，该发明通过将坐标信息、测试分类结果和相关测试信息整理为测试信息表，显著优化了后续对芯片测试信息处理的效率。同时，根据测试信息表生成晶圆测试分布图，有效提升了用户获取所需测试信息的效率和准确性，大幅减少了人工查询的时间成本。此外，通过晶圆测试分布图实现了批量存储、查阅及导出芯片测试信息的功能，灵活满足用户需求，提高了晶圆标准测试数据文件的使用效率。发明人为段云茜、刘勇、江沁、张亚元。「本发明提供一种芯片测试信息的处理方法、装置、电子设备、介质及产品，涉及芯片测试技术领域，通过将坐标信息、测试分类结果和相关测试信息整理为测试信息表，有利于提高后续对芯片的测试信息进行处理的效率。根据测试信息表生成晶圆测试分布图，有利于提高用户获取需要的测试信息的效率和准确性，减少了人工查询的时间成本。通过晶圆测试分布图，实现了批量存储、批量查阅以及批量导出芯片的测试信息，实现了针对用户需求，灵活使用芯片的测试信息，提高了晶圆的标准测试数据文件的使用效率。」

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