天眼查App显示,2025年6月10日,「一种设有沟槽结构的碳化硅肖特基二极管及其制备方法」正式进入专利公布阶段。申请人为重庆青山工业有限责任公司,该项半导体技术专利涉及碳化硅肖特基二极管的设计与制造领域。据专利信息显示,通过引入沟槽结构,接触电阻显著优化,同时耐压能力和开关速度取得突破性进展。发明人为马绍波、蒋华平、游同生、于志新、汤磊、彭志远、杨鹏正、刘定杰、谢雨庭、钟笑寒和李欣欣。该发明具体为在碳化硅SBD的空穴型半导体区域引入沟槽结构(例如方形、阶梯形沟槽等),能够在不改变空穴型半导体区域宽度及间距的前提下,增大欧姆接触面积,降低接触电阻,有效减少局部升温并提高导通能力;同时加深p-n结结深,进一步提升耐压性能和开关速度。
免责声明:本文内容由开放的智能模型自动生成,仅供参考。