天眼查App显示，2025年6月10日，「晶圆缺陷检测图像的处理方法、设备及计算机存储介质」正式进入专利的公布阶段。申请人为东方晶源微电子科技（北京）股份有限公司，该项计算领域专利涉及晶圆缺陷检测技术的应用场景。据专利信息显示，该方法能够显著优化晶圆缺陷检测的精度。发明人为刘成成;韩春营。

本申请公开了一种晶圆缺陷检测图像的处理方法、设备及计算机存储介质。方法包括：通过计算晶圆缺陷检测图像所有像素点的灰度分布特征，确定目标熵值以及所述目标熵值对应的第一灰度划分阈值；确定第二灰度划分阈值；根据第一灰度划分阈值以及第二灰度划分阈值，对晶圆缺陷检测图像的所有像素点的灰度值进行划分，得到晶圆缺陷检测图像的多个灰度区间；根据多个灰度区间对应的不同预设灰度值调节策略，对多个灰度区间中像素点的灰度值进行对比度调节，得到对比度调节后的晶圆缺陷检测图像。根据本申请实施例，能够提升晶圆缺陷检测的精度。

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