天眼查App显示，2025年6月10日，「一种内存测试系统及方法」正式进入专利公布阶段。申请人为北京广利核系统工程有限公司，该项信息存储专利涉及嵌入式系统硬件制造技术领域。据专利信息显示，本申请提供的内存测试系统既能覆盖内存颗粒的测试又能覆盖内存控制器的测试，并且能够确保整个内存单元的稳定性和可靠性，实现显著优化的效果。发明人为施伟、武方杰。「本申请实施例提供了一种内存测试系统及方法，涉及嵌入式系统硬件制造技术领域。本申请公开的内存测试系统通过对内存控制器的物理层接口进行校准，并对内存总线的输入输出接口进行训练，生成优化后的参数，以确保存储单元（包括内存颗粒）的内存数据能够在优化后的参数对应的最佳条件下被采集。随后，基于这些优化后的参数对存储单元进行压力测试，并根据压力测试结果记录存储单元的故障信息和异常信息。由此，本申请提供的内存测试系统既能覆盖内存颗粒的测试又能覆盖内存控制器的测试，并且能够确保整个内存单元的稳定性和可靠性。」

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