天眼查App显示，2025年8月15日，合肥埃科光电科技股份有限公司的「一种表面缺陷检测方法、装置、系统及介质」专利正式进入专利权的授权阶段。申请人为合肥埃科光电科技股份有限公司，该项测量测试专利涉及工业检测领域中的表面缺陷识别技术。据专利信息显示，该方案能够在降低成本的同时提升检测效率，并实现了彩色信息与凹凸信息的同时获取，较传统方法有显著优化。发明人为殷亚祥、罗来富、邵云峰、曹桂平、董宁。本发明公开的方法包括：控制各光源依次点亮并循环，利用真彩线阵相机对移动的待测物进行拍摄，以获取各通道原始图像信息；拆分并按光源汇总图像数据，融合后计算平均值以获得彩色信息；同时提取子图并基于光源角度计算光度立体图以获取凹凸信息。

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