天眼查App显示，2025年9月2日，「一种双光模块对传老化测试方法」正式进入专利的公布阶段。申请人为武汉联特科技股份有限公司，该项电通信技术专利涉及光模块老化测试技术场景。据专利信息显示，该方法通过三组对称测试单元支持并行老化测试，测试效率提升达300%。发明人为陈奎、李林科、吴天书、杨现文、张健。本发明公开该方法包括：S1. 将外光源模块EXT可插拔地接入电路板的第一连接器Connector1上，将待测光模块DUT可插拔地接入电路板的第二连接器Connector2；S2. 通过DUT内置的DSP生成PRBS测试信号，并将该信号输入至EXT的电输入端口；S3. EXT将接收的电信号转换为光信号，通过光纤传输至DUT的光输入端口；S4. DUT将接收的光信号部分转换为电信号，并将该电信号通过电环回路径返回至DSP；S5. DSP对返回的电信号进行实时误码率分析，基于分析结果判断DUT在双模块对传场景下的综合性能。本发明采用内部电环回路径替代外部设备，构建闭环测试链路。

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