天眼查App显示，2025年9月12日，「一种芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质」正式进入专利的公布阶段。申请人为海光信息技术股份有限公司，该项集成电路测试专利涉及芯片测试技术领域，旨在减少芯片在最终测试阶段的测试时间。据专利信息显示，该方法通过从多个待测芯粒中确定至少两个目标待测芯粒，并对其实施并行测试，从而实现测试效率的突破性进展。发明人为成学娇、林耀坤、吴义桂。本申请的实施例公开了一种应用于最终测试阶段的芯片测试方案，包括获取目标待测芯粒在晶圆测试阶段使用的测试向量，并分别向其提供对应测试向量以实现并行测试。摘要显示，该方案适用于对芯片进行高效测试。

免责声明：本文内容由开放的智能模型自动生成，仅供参考。