天眼查App显示，2025年9月12日，「测试方案生成方法及知识库构建方法」正式进入专利的公布阶段。申请人为杭州广立微电子股份有限公司，该项测量测试专利涉及半导体设备测试方案的自动化生成与知识库构建方法。据专利信息显示，通过引脚文件识别与测试规则匹配，基于知识库实现测试方案的智能生成，效率提升达显著优化。发明人为王啸飞、姜辉、蒲怀建。本申请涉及一种测试方案生成方法及知识库构建方法。所述方法包括：获取用户输入的半导体设备的引脚文件、测试方案类型、所述测试方案类型对应的方案模板；所述引脚文件为所述半导体设备的引脚信息文件；基于所述知识库中与所述测试方案类型对应的引脚类别，确定引脚文件中每个引脚的引脚类别；基于所述测试方案类型和知识库，确定所述测试方案类型对应的测试规则；所述知识库包括与测试方案类型对应的引脚分类和测试规则的文本信息；基于所述每个引脚的引脚类别、所述测试方案类型对应的方案模板、以及所述测试规则，生成符合所述方案模板要求的目标测试方案。采用本方法能够达到提升效率和降低成本的效果。

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